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1

Mechanical and Microstructural Investigation of Nickel-Based Superalloy IN718 Manufactured by Selective Laser Melting (SLM)

Strößner, Johannes, Terock, Michael, Glatzel, Uwe

Journal:

Advanced Engineering Materials

Année:

2015

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.50 MB

english, 2015

2

SPIE Proceedings [SPIE European Mask and Lithography Conf 2007 - Grenoble, France (Monday 22 January 2007)] 23rd European Mask and Lithography Conference - Programmed defects study on masks for 45nm immersion lithography using the novel AIMS 45-193i

Scherübl, Thomas, Dürr, Arndt C., Böhm, Klaus, Birkner, Robert, Richter, Rigo, Strößner, Ulrich, Behringer, Uwe F. W.

Année:

2007

Langue:

english

Fichier:

PDF, 691 KB

english, 2007

3

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || Sachregister

Strößner, Corina

Année:

2014

Fichier:

PDF, 275 KB

2014

4

Phasenumwandlungen von Lithiumnitrid unter Druck

Dr. Heinz Jürgen Beister, Sabine Haag, Prof. Dr. Rüdiger Kniep, Dr. Klaus Strößner, Priv.-Doz. Karl Syassen

Journal:

Angewandte Chemie

Année:

1988

Langue:

german

Fichier:

PDF, 311 KB

german, 1988

5

Continuous-wave 532-nm-pumped singly resonant optical parametric oscillator with periodically poled KTiOPO4

D.R Weise, U Strößner, A Peters, J Mlynek, S Schiller, A Arie, A Skliar, G Rosenman

Journal:

Optics Communications

Année:

2000

Langue:

english

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PDF, 187 KB

english, 2000

6

High resolution Doppler-free spectroscopy of molecular iodine using a continuous wave optical parametric oscillator

A. Hecker, M. Havenith, C. Braxmaier, U. Strößner, A. Peters

Journal:

Optics Communications

Année:

2003

Langue:

english

Fichier:

PDF, 158 KB

english, 2003

7

Influence of casting surface on creep behaviour of thin-wall Ni-base superalloy Inconel100

Strößner, J., Konrad, C.H., Brunner, M., Völkl, R., Glatzel, U.

Journal:

Journal of Materials Processing Technology

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.07 MB

english, 2013

8

Normality and Majority: Towards a Statistical Understanding of Normality Statements

Strößner, Corina

Journal:

Année:

2015

Langue:

english

Fichier:

PDF, 335 KB

english, 2015

9

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 27 February 2011)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography II - AIMS EUV: the actinic aerial image review platform for EUV masks

Hellweg, Dirk, Ruoff, Johannes, Herkommer, Alois, Stühler, Joachim, Ihl, Thomas, Feldmann, Heiko, Ringel, Michael, Strößner, Ulrich, Perlitz, Sascha, Harnisch, Wolfgang, La Fontaine, Bruno M., Naullea

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.16 MB

english, 2011

10

Photon number squeezing of spectrally filtered sub-picosecond optical solitons

Spälter, S, Burk, M, Strößner, U, Böhm, M, Sizmann, A, Leuchs, G

Journal:

EPL (Europhysics Letters)

Année:

1997

Langue:

english

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PDF, 411 KB

english, 1997

11

Die Bewertung des Scharlach-Anatoxins vom Standpunkte der Immunitätslehre

Journal:

DMW - Deutsche Medizinische Wochenschrift

Année:

1938

Langue:

german

Fichier:

PDF, 41 KB

german, 1938

12

Scharlachschutzimpfungen mit Streptococcus haemolyticus-Vakzine und Dick-Reaktion

Strößner, Edmund

Journal:

DMW - Deutsche Medizinische Wochenschrift

Année:

1926

Langue:

german

Fichier:

PDF, 96 KB

german, 1926

13

Microstructure and mechanical properties of selective laser melted Inconel 718 compared to forging and casting

Trosch, Tanja, Strößner, Johannes, Völkl, Rainer, Glatzel, Uwe

Journal:

Materials Letters

Année:

2016

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.29 MB

english, 2016

14

[WORLD SCIENTIFIC Proceedings of the 6th Symposium - University of St Andrews, Fife, Scotland (9 – 14 September 2001)] Frequency Standards and Metrology - CONTINUOUS-WAVE OPTICAL PARAMETRIC OSCILLATORS AS NEW TOOLS FOR HIGH RESOLUTION SPECTROSCOPY

PETERS, A., STRÖßNER, U., KOVALCHUK, E. V., DEKORSY, D., LVOVSKY, A. I., HECKER, A., BRAXMAIER, C., MLYNEK, J., SCHILLER, S.

Langue:

english

Fichier:

PDF, 531 KB

english

15

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || 3 Qualitative Normalität

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

german

Fichier:

PDF, 412 KB

german, 2014

16

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || Personenregister

Strößner, Corina

Année:

2014

Fichier:

PDF, 112 KB

2014

17

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || 1 Einleitung

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

german

Fichier:

PDF, 95 KB

german, 2014

18

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || Dank

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

german

Fichier:

PDF, 63 KB

german, 2014

19

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || 2 Quantitative Normalität

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

german

Fichier:

PDF, 633 KB

german, 2014

20

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || 4 Normalität zwischen Quantität und Qualität

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

german

Fichier:

PDF, 287 KB

german, 2014

21

Die Logik der Normalität (Untersuchungen zur Semantik von Normalitätsurteilen) || Literatur

Strößner, Corina

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 121 KB

english, 2014

22

SPIE Proceedings [SPIE Photomask and NGL Mask Technology XV - Yokohama, Japan (Wednesday 16 April 2008)] Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XV - Wafer level CD metrology on photomasks using aerial imaging technology

Scherübl, Thomas, Horiuchi, Toshiyuki, Strößner, Ulrich, Seitz, Holger, Birkner, Robert, Richter, Rigo

Année:

2008

Langue:

english

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PDF, 270 KB

english, 2008

23

SPIE Proceedings [SPIE Photomask Technology - Monterey, CA (Monday 6 October 2008)] Photomask Technology 2008 - AIMS and resist simulation

Strößner, Ulrich, Kawahira, Hiroichi, Zurbrick, Larry S., Seitz, Holger, Birkner, Robert, Richter, Rigo, Scherübl, Thomas

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 365 KB

english, 2008

24

SPIE Proceedings [SPIE 27th European Mask and Lithography Conference - Dresden, Germany (Tuesday 18 January 2011)] 27th European Mask and Lithography Conference - Concept and feasibility of aerial imaging measurements on EUV masks

Perlitz, Sascha, Behringer, Uwe F.W., Harnisch, Wolfgang, Strößner, Ulrich, Feldmann, Heiko, Hellweg, Dirk, Ringel, Michael

Année:

2011

Langue:

english

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PDF, 258 KB

english, 2011

25

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Photomask Technology - Monterey, California (Monday 19 September 2011)] Photomask Technology 2011 - Development status and infrastructure progress update of aerial imaging measurements on EUV masks

Perlitz, Sascha, Maurer, Wilhelm, Abboud, Frank E., Harnisch, Wolfgang, Strößner, Ulrich, Peters, Jan Hendrik, Weiss, Markus, Hellweg, Dirk

Année:

2011

Langue:

english

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PDF, 809 KB

english, 2011

26

The Logic of “Most” and “Mostly”

Strößner, Corina

Journal:

Année:

2017

Langue:

english

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PDF, 512 KB

english, 2017